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副反射鏡測定†
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- 副反射鏡 (副鏡, subref) 測定に関する情報を共有するためのページです。自由に編集いただいてかまいません(改訂時には履歴を残してください)。
- 更新履歴
- 23-Mar-11 - YT - modified for the 2011/Apr. runs. ! STILL EDITING !
- 26-Apr-10 - BH - added predicted temperatures of planets in April-May 2010.
- 16-Apr-10 - YT - modified for runs during April-May, 2010.
- 15-Aug-09 - YT - modified for further runs in early September, 2009
- 18-Jun-09 - YT - modified.
- 18-Jun-09 - SH - created.
- Observing manuals
- Reduction manuals
- Misc pages
はじめに - 背景と獲得目標†
獲得目標は下記のとおり。
- 副鏡位置X, Y, ZのEL依存性を決定(従来どおり)
#ref(): File not found: "subref_geom.png" at page "Observation and Analysis/SubRef"
図:副鏡位置座標XYZΦの定義
測定の概要†
測定天体の選定†
- 通常(夜間)の測定天体:Saturn
- 夕刻の測定天体:Mars
- 参考: 惑星の検出予測値
- main-beam filling factor: bff = 1-exp[ - ln(2)*[ D(obj)/θ(HPBW) ]^2 ],
- D(obj): 惑星視直径, θ(HPBW): ビーム半値幅 (単位はD, θともに共通)
- 主ビームはガウシアンと仮定
#ref(): File not found: "azelp_110415UTC.png" at page "Observation and Analysis/SubRef"
- 図:AZ-ELプロット。横軸の時刻(UTC)は世界時で、JST=UTC+9である。チリ時間(AST)を日本時間に換算する場合は、JST=AST+13 である。
スケジュール†
下記に示した順番で測定を進める。
- 夜間(日没後-日出前)、Saturnを用いた副鏡位置X,Y,Zの測定から、通常の科学観測に使用する器差を決定する。このときTilt=0で固定。
日数 | 予定日 | 作業内容 |
Day 0 | 4/22(thu) | ビームマップ形状の確認・簡単な器差の追い込み |
Day 1 | 4/23(fri) | ビームマップ形状の確認・簡単な器差の追い込み |
Day 2 | 4/24(sat) | 副鏡位置測定と解析 |
Day 3 | 4/26(mon) | 副鏡位置測定と解析 |
Day 4 | 4/27(tue) | 副鏡位置測定と解析 |
Day 5 | 4/28(wed) | 副鏡位置測定と解析 |
Day 6 | 4/29(thu) | 副鏡位置測定と解析 |
Day 7 | 4/30(fri) | 副鏡位置測定と解析 |
Day 8 | 5/01(sat) | 器差更新・確認作業・ビームパタンの追い込み (責任者) |
Day 9 | 5/03(mon) | 器差更新・確認作業 (責任者) |
Day10 | 5/04(tue) | 予備日 |
Day 4 | 5/05(wed) | 連続波ポインティング測定 w/ iOPT |
Day 5 | 5/06(thu) | 連続波ポインティング測定 w/ iOPT |
Day 6 | 5/07(thu) | 連続波ポインティング測定 w/ iOPT |
Day 7 | 5/08(fri) | 連続波ポインティング測定 w/ iOPT |
Day 8 | 5/09(sat) | 器差更新・確認作業 (責任者) |
Day 9 | 5/10(mon) | 予備日 |
Day10 | 5/03(fri) | 予備日 |
簡単にフォーカスを合わせる†
- 測定
- 指示書: jupzb8.start (for B8QM), jupzc3.start (for CATS345)
- subref offset (dx, dy, dz) = (0, 0, 0) とする
- 解析
副鏡位置X,Y,ZのEL依存性の測定†
連続波ポインティング/ビームマッピングによる器差追い込み†
comment†