副反射鏡測定

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副反射鏡 (副鏡, subref) 測定に関する情報を共有するためのページです。自由に編集いただいてかまいません(改訂時には履歴を残してください)。
 



 

はじめに - 背景と獲得目標

獲得目標は下記のとおり。

#ref(): File not found: "subref_geom.png" at page "Observation and Analysis/SubRef"

図:副鏡位置座標XYZΦの定義

測定の概要

測定天体の選定

http://aste-www.mtk.nao.ac.jp/obslog_wiki/pukiwiki/index.php?plugin=ref&page=345GHz%E5%88%86%E5%85%89%E3%82%BB%E3%83%83%E3%82%B7%E3%83%A7%E3%83%B32010%20%E7%AB%8B%E3%81%A1%E4%B8%8A%E3%81%92%E6%83%85%E5%A0%B1&src=azelp_01May.png

スケジュール

下記に示した順番で測定を進める。

  1. 夜間(日没後-日出前)、Saturnを用いた副鏡位置X,Y,Zの測定から、通常の科学観測に使用する器差を決定する。このときTilt=0で固定。
日数予定日作業内容
Day 04/22(thu)ビームマップ形状の確認・簡単な器差の追い込み
Day 14/23(fri)ビームマップ形状の確認・簡単な器差の追い込み
Day 24/24(sat)副鏡位置測定と解析
Day 34/26(mon)副鏡位置測定と解析
Day 44/27(tue)副鏡位置測定と解析
Day 54/28(wed)副鏡位置測定と解析
Day 64/29(thu)副鏡位置測定と解析
Day 74/30(fri)副鏡位置測定と解析
Day 85/01(sat)器差更新・確認作業・ビームパタンの追い込み (責任者)
Day 95/03(mon)器差更新・確認作業 (責任者)
Day105/04(tue)予備日
Day 45/05(wed)連続波ポインティング測定 w/ iOPT
Day 55/06(thu)連続波ポインティング測定 w/ iOPT
Day 65/07(thu)連続波ポインティング測定 w/ iOPT
Day 75/08(fri)連続波ポインティング測定 w/ iOPT
Day 85/09(sat)器差更新・確認作業 (責任者)
Day 95/10(mon)予備日
Day105/03(fri)予備日

簡単にフォーカスを合わせる

副鏡位置X,Y,ZのEL依存性の測定

連続波ポインティング/ビームマッピングによる器差追い込み

 

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